半導体分野におけるクロック信号に関する技術は、半導体集積回路内で動作タイミングを制御するためのクロック信号の生成、配信、調整に関する技術群を含む。代表的な技術として、クロック信号（ｃｌｋ）を安定的に供給するための発振回路として水晶振動子や圧電振動子を用いた励振技術がある。また、クロックスキューを低減するためのレイアウト設計や論理回路のタイミング調整も重要である。クロック信号の遅延を管理するためにチャージポンプや昇圧回路が利用され、電源電圧（ｖｄｄ）や出力電圧の変動を抑える制御回路も組み込まれる。さらに、スキャンチェーンやフリップフロップ（ｆｆ）を用いたスキャンテスト、テストモードにより内部状態の検査や試験を可能にする技術も含まれる。これらの技術は入力端子から外部端子へとクロック信号を安定的に伝送し、半導体集積回路の動作を正確に制御しつつ、試験装置やテスターを用いた検査が行えるように構成される。
