2025.11.24
半導体分野における外観検査に関する技術
半導体分野における外観検査技術は、ウェハやパッケージの表面に存在する欠陥の検出や評価を目的とする。画像撮像技術を用いてカメラで対象物を撮影し、照明条件や波長の選択を工夫して欠陥の視認性を向上させる。撮像された画像は記憶され、解析される。 検査対象にはウ…
主要プレイヤー: 株式会社日立ハイテクノロジーズ
2025.11.24
半導体分野における電子顕微鏡に関する技術
半導体分野における電子顕微鏡技術は、主にSEM（走査型電子顕微鏡）とTEM（透過型電子顕微鏡）を活用し、ウェハ上の欠陥検査や微細構造の観察を行う技術群である。SEMは表面の画像撮像に優れており、ステージ上でウェハの特定領域を高解像度で検査することが可能である…
2025.11.20
半導体分野における回路シミュレーションに関する技術
半導体分野における回路シミュレーションに関する技術は、主に半導体集積回路の設計および検証を目的とし、ネットリストやレイアウトデータを基に回路の動作を予測・解析する技術群である。シミュレーションではトランジスタの動作をモデル化し、チャネルやドレイン、ソースにお…